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幾何量學(xué)儀器設(shè)備校準(zhǔn)
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高度卡尺校準(zhǔn)中提到它是用來(lái)測(cè)量制件表面高度位置和精密劃線的量具。其主要結(jié)構(gòu)形式分別為游標(biāo)高度卡尺、帶表高度卡尺和數(shù)顯高度卡尺。
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